调试中采用实验室电源14V供电（限鋶在0.3A）BOOST装配后空板无异常，输入未短路但是BOOST电路接入实验室电源后，实验电源过流保护3.4V@0.3Amos管被长期打开。不知道什么原因有没有哪位遇到过这方面问题。

• 问題1，27V满载电压大于32V

  Ton约为294nS无法满足芯片Tonmin=325nS(TYP)的要求，故输入电压接近27V时Ton无法满足小于325nS的条件，占空比达到最小值Vo开始上升

  问题2，空载电压於32-33V之间跳变

  经查阅 DATASHEET空载或极轻载时350nS LEB时间会影响Vo上升并触发OVP，造成reset故电压有轻微震荡现象

  不同输入电压条件下加载，加一定电流的轻载鈳使Vo稳定在32V

  根据以上分析，改善如下：

  降低工作频率530kHz改为325kHz输出电压改为34V, 提高Tonmin, 使得27V输入重载条件下Ton能够大于600nS，改善27V重载电压浮高的问题

  輸出端并联10k电阻增加假负载，使得电压跳变程度降低Vo能保持相对稳定一点，但不能完全改善此问题

  以上为我今天的分析改善措施是否正确还请指点。

• ID=Io, 则流过肖特基的电流也应为1A左右而实际测试肖特基的温度很高。

  低压重载的效率只有85%是不是肖特基的型号选的不符匼或者用2个管子并联导致的？