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IPC-TM-650关于PCB以及相关材料的试验项目
微观部位,手动方法
IPC-TM-650 2.1.1
针孔评估,染色渗透法
对金属箔进行染色后外观检查染色点的数量及尺寸。
IPC-TM-650 2.1.2
微观尺寸检测
将试样制成切片,然后可进行镀层、涂覆层及阻焊层等的测量。
IPC-TM-650 2.2.5
孔尺寸测量
直接光学显微镜测量
IPC-TM-650 2.2.6
孔金属镀层尺寸测量
常用金相,少用SEM。
IPC-TM-650 2.2.7
重量法测铜箔厚度
样品中取不同位置(中心、左右边缘)测量,通过测其质量而进行厚度的换算。
IPC-TM-650 2.2.12
印制线路用材料燃烧性试验
厚度小于0.5mm(0.020in);25.4mm (1英寸)宽×457mm(18英寸)长×厚度的长条形;每个测试条件下,每种材料至少需检测3条试样;23 ± 2℃,50 ±5% RH至少处理24小时。
IPC-TM-650 2.3.9
印制线路用层压板燃烧性试验
厚度大于或等于0.51mm(0.020英寸);127± 0.64 mm(5.0±0.025英寸)长、12.7± 0.51mm(0.5± 0.020英寸)宽。5个试样为一组。(1)23 ± 2℃,50 ±5% RH至少处理24小时(2)125±5℃,24±2h
IPC-TM-650 2.3.10
印制线路板上阻焊剂的燃烧性试验
厚度大于或等于0.5mm(0.020英寸)的层压板。130± 5 mm长、13± 0.5mm宽,分为两组,10个试样为一组,(1)23 ± 2℃,50 ±5% RH至少处理48小时(2)70±1℃,168h
IPC-TM-650 2.3.10.1
离子清洁度
溶剂萃取液电阻法。
IPC-TM-650 2.3.25c
刚性绝缘层压材料抗弯曲强度
厚度≥0.5mm,横向切两块,纵向切两块。
IPC-TM-650 2.4.4b
50.8×50.8mm,每种条件至少2个样品,一个样品的两面进行横向测试,另一个样品的两面进行纵向测试
IPC-TM-650 2.4.8
热应力后(表面涂覆硅油脂后,在288±5.5℃的锡面上保持10+1/-0sec)
浸过制程药水后(有机溶剂浸泡75±5sec,23±2℃后,125±5℃下干燥15±5min,各溶液处理)
抗拉强度和延展性,实验室电镀法
厚度为0.05~0.1mm;尺寸为13mm×152mm的长条状。测试10个样(5个纵向的,5个横向)。125℃,4-6小时。
IPC-TM-650 2.4.18.1
非支撑元件孔连接盘粘合强度、粘结强度,表面组装焊盘垂直拉脱试验
每个试样不少于3个孔。
IPC-TM-650 2.4.21/2.4.21.1
PCB翘曲度测试(弓曲和扭曲)
标准平台,片规
IPC-TM-650 2.4.22
印制线路材料的介质耐电压
耐电压测试仪测量
IPC-TM-650 2.5.7
多层印制线路互连电阻测试
用四线法测
IPC-TM-650 2.5.12
耐湿性及绝缘电阻〔适用于有涂覆层(方法A)和没有涂覆层(方法B)的印制板。在没有特别指出或说明时,方法A为默许检测方法〕
A:涂覆完涂层后,测试样品应按照涂层材料供应商指定的方法进行处理。
B:外观检查, 使用异丙醇和软毛刷擦洗测试试样的引线端至少30S, 使用清洁的异丙醇彻底地淋洗。使用清洁的去离子水或蒸馏水彻底清洗, 在50±5℃的干燥箱中干燥样品至少3个小时,以下同A条件红色字体。
IPC-TM-650 2.6.3
多层印制电路板机械冲击
测试条件:印制板应经受三次持续时间为6.5ms的100G的冲击脉冲,分别在三个主面上进行,共9次。(注:1G=9.80665m/s2)。
IPC-TM-650 2.6.5
刚性印制线路耐振动
在振动测试前后,样品进行互连电阻测试。将板的平面垂直于振动的轴向***,进行循环扫描振动试验及定时共振试验。循环扫描振动试验应由20至2000HZ再回到20HZ的一个扫描组成,持续时间为16min。在20至2000HZ频率范围的输入加速度应保持在15G。定时共振试验:试样应经受30min的定时共振,输入25G或试样几何中心测得最大输出为100G。试样四边都要固定以防止移动。振动试验结束后进行互连电阻和翘曲度的测试。
IPC-TM-650 2.6.9
刚性印制板热冲击
选取适当位置或由客户指定具体位置测试初始互连电阻。按表中条件进行温度冲击试验(具体条件由委托单位选取)。第一个循环的高温时和最后一个循环的高温时均进行互连电阻测试。温度冲击后,至少完成3个通孔的金相切片测试。评估要求依据供需双方的要求或相关规定。
IPC-TM-650 2.6.7.2
镀层通孔(镀覆孔)热应力试验
样品应该在121℃到149℃的烘箱里烘烤适当时间(一般为6h,特别规定除外)以去除水汽。将样品置于干燥器内冷却到室温。将样品进入助焊剂中确保助焊剂涂覆到板的表面和通孔。将样品浸入锡炉10+1/-0 s。清洗样品表面残留的焊剂,选取较小的镀覆孔进行金相切片检测。评估要求依据供需双方的要求或相关规定。
IPC-TM-650 2.6.8
印制电路板可焊性试验项目(IPC/EIA J-STD-003)
样品预处理
1.锡或锡铅涂覆层:8h±15min 蒸汽老化
OSP涂覆层:35℃/85%RH, 24h±15min老化后在105±5℃下烘烤1h。
可焊性试验
TestA:边缘浸渍法;(外观检查)
TestC:漂焊(外观检查+切片观察)
TestF:润湿天平法(只有推荐标准)
元器件可焊性、耐焊接热测试项目
(IPC/EIA/JEDEC J-STD-002B, IEC/20,GB2423.28/GB2423.32,MIL-STD-202G)
样品预处理
1类:无蒸汽老化要求;
2类:(非锡或锡铅镀层):1h±5min蒸汽老化;
3类:(默认的锡或锡铅镀层):8h±15min蒸汽老化
IPC/EIA/JEDEC J-STD-002B
可焊性试验
1.锡浴(焊料槽)试验:TestA(有引脚元器件),TestB(无引脚元器件),TestC(金属线材类:接线片、小垂片、接线端子、电缆线等)
2.润湿天平法可焊性试验:TestE(有引脚元器件),TestF(无引脚元器件)
金属层耐溶解性试验
样品预处理
1、样品为接收状态,无处理;
2、样品若需预处理时,按照下列进行选择:
老化1a:1h蒸汽老化;老化1b:4h蒸汽老化;
老化2:10天湿热,恒定状态条件(试验Ca:40±2℃,93%+2-3%RH);
老化3:155℃干热16h(试验Ba)
可焊性试验
1.锡浴(焊料槽)试验
4.润湿天平法可焊性试验
金属层耐溶解性试验
260±5℃焊料槽
耐焊接热试验
方法1A:260℃焊料槽;
方法1B:350℃焊料槽;
方法2:350℃烙铁;
方法1A:215±3℃焊料槽;
方法1B:235±5℃焊料槽;
方法1C:260±5℃焊料槽;
样品预处理
1.样品为接收状态,无处理;
2.样品若需预处理时,按照下列进行选择:
老化1a:1h蒸汽老化;老化1b:4h蒸汽老化;
老化2:10天湿热,恒定状态条件(试验Ca:40±2℃,93%+2-3%RH);
老化3:155℃干热16h(试验Ba)
(完全等效于IEC)
/ GB2423. 32
可焊性试验
方法1:温度为235℃焊料槽;
方法2:温度为350℃焊料槽;
方法3:温度为235℃的焊球;
2.GB2423.32 润湿天平法可焊性试验
元器件耐焊接热能力
方法1A:温度为260℃焊料槽;
方法1B:温度为350℃焊料槽;
方法2:温度为350℃的烙铁;
可焊性试验
1.样品预处理(参考J-STD-002)
2类(金属线材类:接线片、小垂片、接线端子、电缆线等):1h±5min蒸汽老化;
3类(其他元器件):8h±15min蒸汽老化
2.可焊性试验
2.1参考J-STD-002 TestA,B,C
2.1烙铁试验法
MIL-STD-202G Mehtod 208H
耐焊接热试验
Test Condition A:手工烙铁法
Test Condition B:焊料浸渍法
Test Condition C/D:手工波峰焊接法
Test Condition I,J,K:红外回流焊
MIL-STD-202G Mehtod 210F
可焊性试验
1.样品预处理(参考J-STD-002)
8h±15min蒸汽老化
2.可焊性试验
MIL-STD-883 2003.7
PCBA无铅焊点可靠性测试项目
(焊点全检)
IPC-A-610D
(每块板至少个代表性器件)
IPC-A-610D
(每块板至少代表性器件)
IPC-TM-650 2.1.1
强度(抗拉、剪切)
每块板至少代表性器件,最好有同类有铅产品做结果比对(其中对于IC器件建议每个边拉脱边缘的4个翼形脚)
(针对BGA器件)
FX 01-JE2-6
test condition G:-40~125℃,sock time 15min. (在线监测互连电阻)
循环次数由委托单位指定。
JESD22-A104
0℃,10min~100℃10min,转换温度10℃/分钟,循环次数由委托单位指定,建议每500cycles进行一次功能测试。
IPC-9701 Table4-1
-40℃,10min~125℃10min,循环次数由委托单位指定。
85℃ .85%RH 168h,500h,1000h
JESD22A101
JEDEC22-A113
自由跌落(高度:20,50,100,250,500,1000mm)/重复自由跌落(高度500mm,试验次数:50,100,200,500,1000次)
30~42inch,10次
频率范围:5HZ~1000HZ,加速度谱值:5HZ 0.01g2/HZ;10HZ
0.06g2/HZ; 190HZ
0.008g2/HZ; 370HZ
0.0008 g2/HZ; 1000HZ
0.0005 g2/HZ,总均方根值:1.9935gRMS,方向:X、Y、Z三方向,时间:每方向2h,共6h。
ANSI/EIA-364-28D-1999
峰值10g,频率10~500HZ,方向:X、Y、Z三方向,时间:每方向振动12次,每次15分钟,共9h。
MIL-STD 202G Method204D Test condition A
锡须生长评价
试验前样品预处理
A 无处理;B:室温贮存4周;C:有铅温度曲线回流处理;D:无铅温度曲线回流处理
JEDEC/ JESD22A121
85℃,85%RH,500h,电镜观察
Sony Technical Standard SS-)
60±5℃ and 87+3/-2%RH,3000h(每1000h观察锡须生长情况)。
JEDEC/ JESD22A121
30±2℃ and 60±3%RH, 3000 h(每1000h观察锡须生长情况)
JEDEC/ JESD22A121
温度冲击(循环)
-35±5℃,30min;125±5℃ 30min, 1000 循环
(150cycle,500cycle,1000cycle时电镜观察锡须生长情况)。
Sony Technical Standard SS-)
Min Temperature
-55 to -40 (+0/-10) °C;Max Temperature
+85 (+10/-0) °C, 5 to103 cycles/hour 1000 cycles。电镜观察(每500cycles观察一次)。
JEDEC/JESD22A121
1、 A类检测项目是在进行B类可靠性试验前后各进行一次,以评价焊点可靠性水平。
2、 测试样品数量视检测项目多少而定。
3、 假设在试验结束后发现焊点存在失效,建议作进一步的分析,费用另计。
PCB&PCBA失效分析项目
板面起泡、分层,阻焊膜脱落
迁移、氧化腐蚀(含验证试验,168h/596h)
开路、短路(导通孔质量~电路设计)
PCBA焊接不良
(化镍沉金)
400球以上的BGA且失效点未知
端子(引脚)上锡不良
PCBA表面异物分析
PCBA漏电、通电燃烧等
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ISO内外审对应 测量系统分析
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